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  • 光學薄膜測厚儀

    光學薄膜測厚儀 薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉,干涉的發生與膜厚及折光系數等有關,因此可通過計算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無損、且快速的光學薄膜厚度測量技術,我們的薄膜測量系統采用光干涉原

    更新時間:2020-11-01

    廠商性質:其他

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